Le « French SNOM user meeting » est un évènement annuel initié en 2022 autour de deux objectifs : structurer la jeune communauté française d’utilisateurs d’équipement SNOM (scanning near-field optical microscope) et partager les compétences et techniques développées par chacun.

La montée en compétence de la communauté française permet désormais d’ajouter un objectif supplémentaire à cet évènement : faire rayonner les possibilités du SNOM dans de nouvelles communautés scientifiques.

Cette 4ᵉ edition du « French SNOM user meeting » vise donc à augmenter le nombre d’auditeurs intéressés par le SNOM pour leurs recherches et portera une attention particulière aux temps prévus pour l’initiation de nouvelles collaborations scientifiques.

Ce workshop a bénéficié d'une aide de l'État au titre de France 2030 (PhOM -Graduate School Physique) portant la référence ANR-11-IDEX-0003

Le colloque se déroulera sur 2 jours les 23-24 novembre 2026 dans l’amphithéâtre du Synchrotron Soleil.

Le programme s’organisera autour de présentations de 30 min en anglais (20 min de présentations+10 min de questions), et de sessions de posters permettant les rencontres et les élaborations de nouveaux projets de recherche.

 

Le 25 novembre 2026, visites des équipements SNOM de Paris-Saclay et mesures test sur la Ligne SMIS :

• La plateforme ONDA de l’ONERA/DOTA Palaiseau et la ligne SMIS du synchrotron Soleil vous ouvrent leurs portes pour découvrir deux bancs uniques en France : un SNOM sur faisceau synchrotron et un SNOM cryogénique. (gratuit sur inscription)
• La ligne SMIS propose quelques créneaux de mesures d'échantillon sur leur SNOM (soumission des propositions en parallèle des abstracts)

La participation au colloque en tant qu'auditeur ou orateur est gratuite.

L'inscription obligatoire est ouverte jusqu'au 31/10/2026.

Afin de profiter d'une mesure test sur le microscope s-SNOM de soleil, un projet doit être soumis (sur la page soumission du site web).

Attention : La visite du SNOM et cryo-SNOM de l'ONERA est gratuite sur inscription et nécessite transmettre une copie de pièce d’identité pour permettre d'entrer sur le site.

 

Les topiques principaux de ce colloque sont les études par ou pour le SNOM :

* Dans toutes les bandes spectrales (Visible, infrarouge, THz),

* Sur tout type de matériaux (Polymères, diélectriques, cristaux, roches, 2D, metamatériaux...),

* En combinaison avec d'autres techniques (KPFM, AFM-IR, TERS, photocourant local, cryogénie ...)

Nous invitons également tous ceux qui voudraient utiliser un microscope s-SNOM pour leurs sujets d'études à soumettre des abstracts en session poster.